اطلاعات بیشتر
مدل | MFC-500B, MFC-200B, MFC-100B, MFC-50B |
---|
مدل | MFC-500B, MFC-200B, MFC-100B, MFC-50B |
---|
ببخشید، برای نوشتن دیدگاه باید وارد بشوید
مرحله نخست در ساخت سلول های خورشیدی برش زیرلایه های شیشه ای است. برش تکرار پذیر و در ابعاد دقیق برای استفاده بهینه از شیشه و نیز تکرار پذیری کلیدی است. در ساخت ماژول های بزرگ تر، فرایند های مکانیزه برش دقیق شیشه اهمیت بیشتری خواهد داشت.
دستگاه برش شیشه الماسی با دقت 0/2 میلیمتر امکان برش انواع شیشه و FTO را به طول 35 سانتیمتر فراهم میکند.
این دستگاه خطاها و لرزش ناشی از دست انسان را حذف و عملیات برش کاری شیشه را تکرار پذیر می کند. همچنین دیگر نیازی به خط کشی و علامت گذاری روی زیر لایه ها، قبل از برش کاری نیست.
ابعاد میز:35cm x 35cm
مرحله نخست ساخت سلول خورشیدی تمیز کردن سطح زیرلایه با دقت بسیار زیاد است. این مرحله که وقت زیادی می گیرد در بسیاری از موارد منتج به تمیزی در ابعاد اتمی نمی شود. همین موضوع بر روی لایه نشانی های بعدی و در نهایت بر روی خواص الکتریکی سلول اثر منفی می گذارد. آلودگی هایی از قبیل چربی پوست انسان، رزین های افزودنی، روغن های روان ساز، حلال ها و بخار آنها، سولفید ها، آلودگی هایی که در زمان طولانی در هوا جذب می شوند، بخار روغن های پمپ خلا و روغن های آرایشی، با آب و حلال تمیز نمی شود. همچنین حلال ها خود روی سطح باقی می مانند.
استفاده از UV-Ozone شرایطی را ایجاد می کند که کلیه مواد آلی روی سطح اکسید شده و سطح به طور کامل تمیز می شود. این موضوع در تست های اندازه گیری زاویه تماس به روشنی خود را نشان می دهد. مکانیسم عمل در واقع ایجاد شرایط کنترل شده و بهینه شده ای است که نمونه ها به طور توام در معرض دور مشخصی از UV و اوزون قرار می گیرند. امکان ورود اکسیژن به داخل سیستم وجود دارد و زمان اعمال UV-Ozone به وسیله تایمر تعیین می شود. برخی از کاربرد های دستگاه شامل موارد زیر است:
تمیز کردن زیر لایه ها قبل از لایه نشانی
تمیز کردن ویفر های سیلیکون، لنز ها، آینه ها، پنل های خورشیدی، ورق های استیل، قطعات درونی گایدها
تمیز کردن مدار های هیبریدی، پنل های صاف LCD
اچینگ تفلون، وایتون و دیگر مواد آلی
افزایش لایه اکسید غیر فعال سطحی Si و GaAs
از بین بردن پلاستیک ویفر ها
افزایش چسبندگی پوشش روی پلاستیک
از بین بردن جوهر روی ویفر
پاک کردن فوتورزیست ها
پاک کردن صفحه های لیتوگرافی
افزایش آبدوستی سطح
رشد لایه های اکسیدی روی ویفر سیلیکون
تمیز کردن اسلاید ها و پروب های میکروسکپ و فیبرها و لنز های اپتیکی
فایل pdf مشخصات فنی را از اینجا دریافت نمایید.
اندازه گیری مشخصه های لایه نیم رسانا مانند مقاومت سطحی، موبیلیته، چگالی حامل ها و نوع حامل ها در پژوهش مواد نیم رسانا نظیر سلول های خورشیدی لایه نازک، LED و لایه های TCO ضروری است. سیستم HSR-24AC با بهره گیری از یک سیستم متناوب و فناوری منحصر به فرد کاهش نویز قادر است که پارامترهای نیم رساناهای لایه ای نظیر CIGS، مواد آلی و لایه های پروسکایت که دارای مقاومت بسیار زیادی هستند را اندازه گیری کند.
فایل Pdf مشخصات فنی را از اینجا دریافت نمایید.
در مورد خواص الکتریکی لایه های نازک بیشتر بدانید.
شبیه ساز طیف خورشیدی جهت اندازه گیری های استاندارد سلول های خورشیدی (AM1.5) بکار می رود. شبیه ساز شریف سولار بر اساس نورLED نور خورشید را از 380-1000 nm شبیه سازی می کند.
گستره طیفی: 380-1000 nm
میزان اختلاف طیفی با خورشید: 5%<
تجهیزات جانبی: جک مکانیکی جهت تنظیم فاصله نمونه و نیز فوتودیود استاندارد شده جهت اندازه گیری شدت نور تک تک LED ها و نیز شدت کل.
عملکرد و کاربرد: دستگاه بر اساس نور LED عمل می کند. نور تولید شده به وسیله اسپکترومتر کالیبره شده چک شده است و شدت نور LED ها به گونه ای تنظیم می شود که حداکثر انطباق با طیف خورشیدی ایجاد شود.
LED با استفاده از کلید روی دستگاه می توان بین حالت روشن کردن دستگاه به صورت دستی و کنترل با کامپیوتر انتخاب کرد. در حالت اول طیف دستگاه، طیف AM1.5 است و در حالت دوم با استفاده از نر افزار دستگاه LED ها به طور مستقل قابل روشن شدن هستند. این امر باعث می شود که از این منبع نور بتوان برای کاربردهای متعدد از قبیل تست سلول در چند طول موج و شدت های مختلف و نیز آزمایش هایی نظیر Voc decay استفاده کرد. هم چنین صحت طیف تولیدی را همیشه می توان بر اساس اندازه گیری مستقل شدت نور LED ها که به وسیله یک فتودیود به دست می آید مورد سنجش قرار داد. همچنین برای آزمایش هایی که بخش IR طیف با عث تخریب نمونه می شود می توان این بخش را به صورت انتخابی حذف کرد.
دستگاه به گونه ای طراحی شده است که امکان قرار دادن آن به صورت مجزا از نیم طبقه ی پایین وجود داشته باشد به صورتی که نور را بتواند به صورت عمودی (از بالا به پایین و یا از پایین به بالا به طور متداول برای نمونه های حالت جامد) و افقی (به طور متداول برای نمونه در محلول) بتاباند. مزیت استفاده از نیم طبقه ی پایینی جلوگیری از رسیدن نور محیط به نمونه در آزمایش هایی مانند اندازه گیری افت ولتاژ مدارباز و تست پاسخ جریان سلول به تغییر ناگهانی شدت نور است. در این حالت نمونه ها بر روی یک پایه که روی یک جک متحرک قرار دارد نصب می شوند و این باعث می شود که موقعیت نمونه و لامپ بدون تغییر باشد. فاصله نمونه تا لامپ به وسیله فتودیود کنترل می شود به صورتی که شدت 100mW/cm2 تأمین گردد.
جدول مشخصات را از این لینک دریافت نمایید.
دیدگاهها
هیچ دیدگاهی برای این محصول نوشته نشده است.